Кофнов ОВ, Лебедев ЕЛ, Михайленко АВ. Компьютерное моделирование дифракции миллиметровых электромагнитных волн для выявления внутренних дефектов изделий, выполненных по аддитивной технологии. ТС [Интернет]. 2фев.2018 [цитируется по 10фев.2025];1(56):76-4. Available from: https://plantprotect.ru/index.php/sp/article/view/3618